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科慕芯:半导体引线框架掩模缺陷智能检测设备

关键字:科慕芯,视觉检测,缺陷检测,引线框架,晶圆检测,PCB,半导体


一、产品概述  ueditor/img/166817524494198GI.png

该产品由西安科慕芯科技有限公司自主设计,运用图像孔洞修复技术、基于无缝融合的自学习技术进行图像重构与缺陷位置、类别判定。对于引线框架掩模缺陷如:图形破损、落尘、脏污、蓝膜、纤维、划痕、玻璃坑等缺陷类型,均可做到全覆盖检测,通过高精度成像与专用的检测算法相结合,检测准确性高达99.6%。产品应用于引线框架生产过程中掩模后的抽检环节。


             

二、产品特点

● 通过自我学习代替了构建模板的繁琐。

● 涵盖各种型号(QFN、DFN、SOP、SOW等等),支持粗化、未粗化各种材质、适应先镀后蚀、先蚀后镀不同产品。

      ● 缺陷检测分类呈现、缺陷位置自动定位和快捷复判。


                         

三、基本参数ueditor/img/165519908426491qA.png

  ● 检测范围:覆盖拗边线(蓝色线所示)以内的所有区域,即包括:图案区域+销钉孔区域。

  ● 缺陷类型:图形破损、落尘、脏污、蓝膜、纤维、划痕、玻璃坑等。

  ● 检测精度:3*3像素精度,边缘处5*5像素精度.

  ● 检出率:>=99.6%




四、效果展示实例

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       本文来源:西安科慕芯科技有限公司