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科慕芯:半导体引线框架曝光缺陷智能检测设备

关键字:科慕芯,视觉检测,缺陷检测,引线框架,晶圆检测,PCB,半导体

一、产品概述ueditor/img/1654409472249E8hL.png

该产品由西安科慕芯科技有限公司自主设计,产品运用图像孔洞修复技术、基于无缝融合的自学习技术进行图像重构与缺陷位置、类别判定。对于引线框架曝光/显影缺陷如:沙孔、连脚、折板、披锋、刮花、起皮、菲林碎、显影不完全等缺陷类型,均可做到全覆盖检测,通过高精度成像与专用的检测算法相结合,检测准确性高达99.6%。产品应用于引线框架生产过程中曝光/显影后的抽检环节。


二、产品特点

通过自我学习代替了构建模板的繁琐。

涵盖各种型号(QFN、DFN、SOP、SOW等等),支持粗化、未粗化各种材质、适应先镀后蚀、先蚀后镀不同产品。

缺陷检测分类呈现、缺陷位置自动定位和快捷复判。ueditor/img/1654770077608DCW4.png



三、基本参数

检测范围:覆盖拗边线(蓝色线所示)以内的所有区域,即包括:图案区域+销钉孔区域

● 缺陷类型:沙孔、连脚、折板、披锋、刮花、起皮、菲林碎、显影不完全等

● 检测精度:3*3像素精度,边缘处5*5像素精度

● 检出率:>=99.6%



四、效果摘录                      

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      本文来源:西安科慕芯科技有限公司