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科慕芯:半导体引线框架缺陷智能全检设备

关键字:科慕芯,视觉检测,缺陷检测,引线框架,晶圆检测,PCB,半导体

一、图像采集及运动控制系统 ueditor/img/16901602901004d6f.jpg

● 构建多视角、多光谱柔性光路模型,有效提升设备对材质颜色、粗糙度等多种因素的兼容能力,大幅增强细微划伤、轻微烧焦等微弱缺陷的检出能力

● 通过精密直线电机与高精度光栅尺一体化设计有效除去振动对成像的影响,支撑引线框架密度不断升高、线宽不断变窄、精度要求日趋严格的升级需求

● 三路8K/12K/16K TDI 高灵敏高行频线扫工业相机与GPU并行计算相结合,充分保证设备的吞吐能力,节拍动作流畅、高效



             

二、部分测试内容

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三、历史记录ueditor/img/1680428926150IBzN.png

● 提供按日期、型号等多种搜索方式

● 检测结果全保存,查阅方便

● 按日、月统计检测结果

● 自动生成对应的检测报告和结果输出

● 软件层面对产品模具及检测记录的存档



四、产品特点

        ● 检测设备要能实现不需要CAD绘图的情况下对有效图形区城实现自动检测和自动标定异常。

       检测设备可对引线框架缺陷如:化银、漏银、泡点、银黄、缺银、偏移、氧化、划伤、划痕等缺陷类型进行检测与定位。

       ● 设备具备缺陷精确分类和严重等级划分能力,对蚀刻不全(连脚等)、蚀刻过度、沙孔、缺银等报废类缺陷进行准确检出,大幅降低复判工作量和复判人员需求。

       ● 设备具备人机交互与自我学习进化能力,通过对用户标注样本的不断学习,设备的检测与分类性能将不断优化提高。

       ● 设备默认检测幅宽50mm-100mm,长100mm-300mm,最大尺寸检测时间3秒/片,检测速度高达20张/分钟,是当前同类检测设备的2倍。更多尺寸需求可进行拓展。

       像素解析精度默认10um/px,如需更高或较低需求,可进行拓展和修改。

       设备自动根据检出的缺陷生成一张缺陷导航地图,对缺陷所在位置、类型进行标记和可视化呈现,作业者可快速查找、定位、观察缺陷。

       软件层面实现对产品型号的存档和检测记录的存档,以备历史查看与统计分析。

       ● 检测设备支持远程技术功能,在软件方面可对检测手段进行升级和完善。



五、设备配置

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本文来源:西安科慕芯科技有限公司