关键字:科慕芯,视觉检测,缺陷检测,引线框架,晶圆检测,PCB,半导体
一、产品介绍
该产品由西安科慕芯科技有限公司自主设计,产品运用图像孔洞修复技术、基于无缝融合的自学习技术进行图像重构与缺陷位置、类别判定。对于引线框架曝光/显影缺陷如:化银、漏银、泡点、银黄、缺银、偏移、厚度不够、氧化等缺陷类型,均可做到全覆盖检测,通过高精度成像与专用的检测算法相结合,检测准确性高达99.6%。产品应用于引线框架生产过程中镀银后的抽检环节。
二、工作流程
● 通过自我学习代替了构建模板的繁琐。
● 涵盖各种型号(QFN、DFN、SOP、SOW等等),支持粗化、未粗化各种材质、适应先镀后蚀、先蚀后镀不同产品。
● 缺陷检测分类呈现、缺陷位置自动定位和快捷复判。
三、基本参数
● 右图中“图形区域”有效监测区域
● 缺陷类型:化银、漏银、泡点、银黄、缺银、缺银、偏移、厚度不够、氧化等
● 检测精度:3*3像素精度,边缘处5*5像素精度
● 检出率:>=99.6%
四、检测效果示例

本文来源:西安科慕芯科技有限公司